一种用紫外光测量气体浓度的双光路结构
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摘要
本实用新型公开了一种用紫外光测量气体浓度的双光路结构，包括中空且不透光的底座，底座上设有分光镜片，底座上设有与空腔B连通的进气口和出气口，底座上设有透光孔A、透光孔B、以及透光孔C，底座且位于透光孔A处设有向空腔A内发射紫外光束a的紫外光发生装置，紫外光束a经过分光镜片反射后得到紫外光束b，紫外光束a经过分光镜片折射后得到紫外光束c，紫外光束b射向透光孔B，紫外光束c经过空腔B后射向透光孔C，底座且位于透光孔B处设有紫外线光传感器A，底座且位于透光孔C处设有用于测量紫外光束c强度的紫外线光传感器B；通过对紫外线光传感器A和紫外线光传感器B采集的数据分析，能更加准确的测量待测气体的浓度。
基本信息
专利标题 ：
一种用紫外光测量气体浓度的双光路结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920428229.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-03-29
授权号 ：
CN210119437U
授权日 ：
2020-02-28
发明人 ：
潘国章
申请人 ：
深圳市科尔诺电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区新安街道67区流芳路6号庭威工业园一号楼四楼E
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920428229.3
主分类号 ：
G01N21/33
IPC分类号 ：
G01N21/33 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/33
利用紫外光
法律状态
2020-02-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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