双光路去噪声载波-包络相位测量装置
专利权的终止
摘要
一种双光路去噪声载波—包络相位测量装置,构成包括:沿待测激光束的前进方向上依次是第一透镜、白宝石片、第二透镜和第一分束片,第一分束片将激光分为透射光束和反射光束,所述的透射光束,经延时器延时后被第二分束片反射;所述的反射光束由第一反射镜反射后经第三透镜、BBO晶体、第四透镜,被第二反射镜反射,透过所述的第二分束片,与该第二分束片的反射光束合并成一束射入光谱仪的狭缝中,该光谱仪与计算机连接,所述的白宝石片位于第一透镜的焦点,所述的BBO晶体位于所述的第三透镜的焦点后,所述的第一分束片、第二分束片、第一反射镜和第二反射镜与射入的光束呈45°。本实用新型具有干涉条纹清晰、测量方便、快捷、准确的特点。
基本信息
专利标题 :
双光路去噪声载波-包络相位测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820059891.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-18
授权号 :
CN201269780Y
授权日 :
2009-07-08
发明人 :
宋立伟冷雨欣张春梅王建良李小芳李儒新徐至展
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200820059891.8
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02 G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2012-08-15 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101312310003
IPC(主分类) : G01J 9/02
专利号 : ZL2008200598918
申请日 : 20080618
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20110618
号牌文件序号 : 101312310003
IPC(主分类) : G01J 9/02
专利号 : ZL2008200598918
申请日 : 20080618
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20110618
2009-07-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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