基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统及方法

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摘要

本发明公开了一种基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统，其包括：激光器、第一电光强度调制器、光纤耦合器、单模光纤、可调光衰减器、第一可调光延时线、第二可调光延时线、平衡光电探测器、放大器、第二电光强度调制器、光电探测器和信号分析装置。本发明无需使用电移相器、电混频器与电耦合器等电子器件，本发明的相位噪声测量系统具有工作带宽大和响应平坦的优点；无需使用高性能、低相噪的参考信号源，避免了参考源对测量系统带宽、噪底的限制；通过载波抑制技术，使得待测噪声获得较大的增益，从而提升测量灵敏度；抑制了放大器的附加相位噪声和激光器、光纤引入的相对强度噪声，从而降低相位噪声测量系统的噪底。

基本信息

专利标题：

基于微波光子载波抑制的微波源相位噪声测量系统及方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114095083A

申请号：

CN202210065149.2

公开（公告）日：

2022-02-25

申请日：

2022-01-20

授权号：

CN114095083B

授权日：

2022-04-05

发明人：

周沛江芝东李念强唐志刚谢溢锋

申请人：

苏州大学

申请人地址：

江苏省苏州市吴中区石湖西路188号

代理机构：

苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

王广浩

优先权：

CN202210065149.2

主分类号：

H04B10/079

IPC分类号：

H04B10/079 H04B10/50 H04B10/54 H04B10/70