过程分析系统
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摘要

一种过程分析系统,包括:被配置成感测流体特征的分析传感器。所述过程分析系统还包括测量电路,所述测量电路联接到所述分析传感器并且被配置成产生所述流体特征的指示。所述过程分析系统包括处理器,所述处理器联接到所述测量电路、被配置成接收所述流体特征的指示并且基于所述流体特征的指示来计算传感器相关的输出。另外,所述过程分析系统包括诊断部件,所述诊断部件被配置成基于所述传感器相关的输出和参考值来确定所述分析传感器的退化速率,其中所述退化速率与预先选择的阈值比较。

基本信息
专利标题 :
过程分析系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920428551.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-03-29
授权号 :
CN214225012U
授权日 :
2021-09-17
发明人 :
约书亚·M·迪尔曼
申请人 :
罗斯蒙特公司
申请人地址 :
美国明尼苏达州
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
汪洋
优先权 :
CN201920428551.6
主分类号 :
G01N27/30
IPC分类号 :
G01N27/30  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极,例如测试电极;半电池
法律状态
2021-09-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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