一种大电流硅堆外观检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种大电流硅堆外观检测装置，包括底座，所述底座的上端固定连接有工作台，所述工作台内开设有空腔，所述空腔内转动连接有转轴，所述转轴上固定连接有支撑板，所述空腔内设有驱动机构，且驱动机构与支撑板连接，所述支撑板的上端竖直对称固定连接有支杆，且两个支杆延伸至工作台的上方，所述工作台的上端固定连接有支撑块，所述支撑块的上端固定连接有放置板，两个所述支杆靠近放置板的一侧均设有检测器。本实用新型结构稳定，操作简单，设计科学合理，生产周期短，可以对不同型号的大电流硅堆外观进行全方位的检测。
基本信息
专利标题 ：
一种大电流硅堆外观检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920438734.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-02
授权号 ：
CN209946103U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
解锡放
申请人 ：
苏州坦顿检测科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道天鹅荡路49号4幢301室
代理机构 ：
北京艾皮专利代理有限公司
代理人 ：
杨克
优先权 ：
CN201920438734.6
主分类号 ：
G01N33/00
IPC分类号 ：
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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