一种毫米波天线单元测试电路及测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种毫米波天线单元测试电路及测试系统，所述测试电路包括：控制按键区、电源芯片模块、主控芯片区、输出控制区和显示指示区，所述控制按键区，响应于使用者的切换操作产生的切换信号，并向所述主控芯片区发送切换信号；所述主控芯片区，用于接收切换信号，响应于接收到的所述切换信号向所述输出控制区发送控制信号；所述输出控制区，用于接收所述控制信号，响应于接收到的所述控制信号对所述天线单元中天线通道进行切换；所述电源芯片区，用于对所述测试电路及被检测的天线单元进行供电；所述显示指示区，用于显示天线单元中天线通道的连通状态。
基本信息
专利标题 ：
一种毫米波天线单元测试电路及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920444152.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-03
授权号 ：
CN210666063U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
郭洧华费鹏温鑫张璐姜元
申请人 ：
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区142信箱408分箱
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
付生辉
优先权 ：
CN201920444152.9
主分类号 ：
G01V13/00
IPC分类号 ：
G01V13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V13/00
包括在G01V1/00至G01V11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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