一种用于光电探测成像的位敏阳极及位敏阳极探测器
授权
摘要
本实用新型属于光电探测、成像领域，具体涉及一种用于光电探测成像的位敏阳极及位敏阳极探测器。位敏阳极包括衬底、电荷收集极、金属阳极及连接导线；衬底由介电材料制成，电荷收集极位于衬底输入面之上且与衬底输入面紧贴；金属阳极包括以p×q阵列排列的独立金属阳极单元，其中p，q均为整数，且p≥q，位于衬底输入面下方且与衬底输入面相隔一定距离，使金属阳极与电荷收集极形成电容耦合，将电荷收集极收集到的电荷耦合到金属阳极；连接导线包括以p×q阵列排列的独立导线，与金属阳极单元一一对应连接。解决了现有电荷分割型位敏阳极工艺制作难度大、空间分辨率不易提高、不适宜高温烘烤的缺陷。
基本信息
专利标题 ：
一种用于光电探测成像的位敏阳极及位敏阳极探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920448430.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-03
授权号 ：
CN209878135U
授权日 ：
2019-12-31
发明人 ：
陈萍田进寿温文龙
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
汪海艳
优先权 ：
CN201920448430.8
主分类号 ：
G01J1/44
IPC分类号 ：
G01J1/44 H01J40/16 H01J40/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2019-12-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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