一种光电耦合器的老化试验装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种光电耦合器的老化试验装置。主要包括控制模块，老化箱，温度传感器和数据传输模块。所述温度传感器设置在老化箱内并与所述控制模块相连，所述温度传感器用于获取老化箱内指定区域的温度数据，并将所述温度数据发送给所述控制模块；所述数据传输模块与所述控制模块相连，当升温速度发生异常时，控制模块通过数据传输模块向远程终端发送报警信息。上述系统在使用时，当系统某些区域的温度发生异常，相关的报警信息可发给远程终端，值班人员可通过远程终端获知相关信息，进而可采取措施避免火灾的发生。
基本信息
专利标题 ：
一种光电耦合器的老化试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920482067.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-10
授权号 ：
CN209858667U
授权日 ：
2019-12-27
发明人 ：
石颉孔维相赵德宇
申请人 ：
苏州科技大学
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区科锐路1号
代理机构 ：
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈娟
优先权 ：
CN201920482067.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01K1/02 G05D23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-08 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20190410
授权公告日 : 20191227
终止日期 : 20210410
申请日 : 20190410
授权公告日 : 20191227
终止日期 : 20210410
2019-12-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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