一种新型金相检测用通用接口基座
授权
摘要
本实用新型涉及一种新型金相检测用通用接口基座，属于无损检验范畴，广泛应用于电力与能源领域。本实用新型包括双坐标移动平台，其结构特点在于：还包括可拆卸式支柱，所述双坐标移动平台包括基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层，所述基础层安装在可拆卸式支柱上，所述横向移动层安装在基础层上，所述纵向移动层安装在横向移动层上，所述平台层安装在纵向移动层上，所述基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层上均设置有插销安装孔。其中可拆卸式立柱采用螺杆与双坐标移动平台连接，螺杆长度15mm,可拆卸式立柱的下部有一调节杆，转动调节杆可以调节立柱的高度，使双坐标移动平台的四脚与检测面平稳接触。
基本信息
专利标题 ：
一种新型金相检测用通用接口基座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920495849.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-12
授权号 ：
CN210294082U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
王曦沈阳王海帅
申请人 ：
华电电力科学研究院有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区西湖科技经济园西园一路10号
代理机构 ：
杭州天欣专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
冯新伟
优先权 ：
CN201920495849.9
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/01 G01N1/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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