一种激光测厚装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本实用新型涉及测量设备技术领域，公开了一种激光测厚装置，包括底座板(1)、测量装置(2)、送料装置(3)，测量装置(2)和送料装置(3)分别设在底座板(1)上，测量装置(2)包括驱动装置(4)和设在驱动装置(4)上的移动架(5)，移动架(5)竖直设在驱动装置(4)上，驱动装置(4)带动移动架(5)左右移动，移动架(5)的中部开设有开口朝向左侧的U型槽(6)，移动架(5)的左端设有与移动架(5)连接的激光传感器(7)，激光传感器(7)分别设在U型槽(6)的上方和U型槽(6)的下方。本实用新型移动架带动激光传感器左右移动对片材的厚度进行非接触式的测量，避免接触式测量对片材造成磨损，提高测量的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种激光测厚装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920516640.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-16
授权号 ：
CN209857852U
授权日 ：
2019-12-27
发明人 ：
胡美琴郑建蔡强
申请人 ：
浙江双元科技开发有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市莫干山路1418号标准厂房2号楼（上城科技工业基地）
代理机构 ：
浙江杭知桥律师事务所
代理人 ：
王梨华
优先权 ：
CN201920516640.6
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2021-02-12 ：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01B 11/06
变更事项 : 专利权人
变更前 : 浙江双元科技开发有限公司
变更后 : 浙江双元科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310000 浙江省杭州市莫干山路1418号标准厂房2号楼（上城科技工业基地）
变更后 : 310000 浙江省杭州市莫干山路1418号标准厂房2号楼（上城科技工业基地）
变更事项 : 专利权人
变更前 : 浙江双元科技开发有限公司
变更后 : 浙江双元科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310000 浙江省杭州市莫干山路1418号标准厂房2号楼（上城科技工业基地）
变更后 : 310000 浙江省杭州市莫干山路1418号标准厂房2号楼（上城科技工业基地）
2019-12-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
