一种电子设备老化试验装置

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摘要

本实用新型公开了一种电子设备老化试验装置，包括箱体，所述箱体内部设有老化室和热源装置，所述老化室设有回风口和出风口，所述回风口与出风口经由通风管路连通，所述通风管路与老化室内部连接形成循环风道；所述热源装置为压缩机热源装置，所述压缩机热源装置安装于所述循环风道的通风管路上，所述回风口与压缩机热源装置之间的通风管路为回风风道，所述出风口与压缩机热源装置之间的通风管路为出风风道，所述通风管路内设有风机；所述老化室内设有用于放置产品的产品测试架；所述热源装置和老化室与一设置于箱体表面的控制面板电性连接。本实用新型能够解决产品老化试验过程中大量消耗电能的弊端，为产品的老化提供安全可靠的空间和温度。

基本信息

专利标题：

一种电子设备老化试验装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920520097.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-17

授权号：

CN209961863U

授权日：

2020-01-17

发明人：

周伯韬唐杏文

申请人：

深圳市健坤五金有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明区田寮社区第七工业区50栋

代理机构：

深圳英聚知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

林俊远

优先权：

CN201920520097.7

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00