移载式电测设备
授权
摘要

一种移载式电测设备包含机架本体、下治具以及移载模块。下治具固定至机架本体。移载模块可滑动地衔接机架本体,进而可相对于机架本体移动于机外位置以及机内位置之间。移载模块包含两条导轨。两条导轨配置以导引治具框相对于移载模块移动,并配置以使治具框可移动地限位于其间。移载模块配置以协助治具框与下治具结合。由于移载模块可相对于机架本体移动至机外位置,因此利于人工或机械手臂进行放板程序。并且,在放板程序完成之后,移载模块可带着治具框相对机架本体移动至机内位置,以对让载板在移载式电测设备内进行测试,因此更符合人体工学或自动化产线的规划。

基本信息
专利标题 :
移载式电测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920529193.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-18
授权号 :
CN209894905U
授权日 :
2020-01-03
发明人 :
曹诣潘奕华
申请人 :
德律科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市士林区徳行西路45号7楼
代理机构 :
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 :
寿宁
优先权 :
CN201920529193.8
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01  G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2020-01-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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