一种半自动电测机测试设备
授权
摘要
一种半自动电测机测试设备，包括机架、夹持组件、测试组件、第一升降组件、第二升降组件和第一水平驱动件；夹持组件、测试组件、第一升降组件、第二升降组件和第一水平驱动件设置在机架上。本实用新型通过设置夹持组件，对待测试设备进行夹持，并且通过转动部件转动第一夹持板和第二夹持板，实现对待测试设备的转向，便于对待测试设备进行定位测试，使本实用新型更加灵活；通过设置测试组件，对测试端口位置不同的电子设备分别进行测试，实现灵活的半自动化电子设备测试，提高了本实用新型的经济效益和实用性；通过设置第一升降组件和第二升降组件，实现本实用新型对不同种电子设备的多样化测试，提高了本测试设备的普遍实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种半自动电测机测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022347593.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-21
授权号 ：
CN213364925U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
齐柳
申请人 ：
深圳市森榄技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区凤凰街道东坑社区鹏凌路2号华丰科技园2栋5楼B厂房
代理机构 ：
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄娟
优先权 ：
CN202022347593.2
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01 G01R1/04 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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