一种基于光纤光栅F-P腔磁场传感器的漏磁无损探测器
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种基于光纤光栅F‑P腔磁场传感器的漏磁无损探测器。包含电源模块,宽带光源,耦合器,光纤光栅F‑P腔磁场传感器,光电探测器,数据采集卡,磁化线圈结构,计算机,精密电位器,单片机,液晶屏,按键。磁化结构将被测物体局部磁化至饱和,当其表面有裂缝存在时,即产生漏磁场;光源发射光波经过耦合器到达光纤光栅F‑P腔的磁敏感结构,在漏磁场作用下,磁致伸缩管发生伸缩效应导致F‑P腔腔长会发生变化,最终导致光纤F‑P腔反射光干涉信号光谱特性发生变化,带有磁场信息的反射光干涉信号经耦合器的输出口由光电探测器转变成电信号,传输到数据采集卡经A/D转化为数字信号输送至计算机,计算机再对缺陷信号进一步处理和分析,明确缺陷特性。
基本信息
专利标题 :
一种基于光纤光栅F-P腔磁场传感器的漏磁无损探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920543240.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-19
授权号 :
CN209727848U
授权日 :
2019-12-03
发明人 :
吴万康沈常宇李光海
申请人 :
中国计量大学
申请人地址 :
浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号中国计量大学
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920543240.4
主分类号 :
G01N27/83
IPC分类号 :
G01N27/83 G01R33/032 G01D5/353
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/626
应用加热电离气体
G01N27/72
通过测试磁变量
G01N27/82
用于测试缺陷的存在
G01N27/83
通过测试杂散磁场
法律状态
2022-04-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 27/83
申请日 : 20190419
授权公告日 : 20191203
终止日期 : 20210419
申请日 : 20190419
授权公告日 : 20191203
终止日期 : 20210419
2019-12-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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