一种组合式测量仪
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摘要

本实用新型提供了一种组合式测量仪,包括测量仪表,所述测量仪表设置在测量仪表固定架上,所述测量仪表固定架上连接有第一调整支架,第一调整支架与第二调整支架连接,第二调整支架与固定测量杆连接;本实用新型提供了一种组合式测量仪,本实用新型中的组合式测量仪在使用中,可根据被测量工件的具体形状和空间位置,通过调整组合式测量仪的形状和被测工件的变形区域的位置空间情况,调整其整体形状,符合被测量结构的需要,解决现有技术中因为零件变形区域应用常规的测量仪器无法进行测量的技术问题。

基本信息
专利标题 :
一种组合式测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920603948.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-28
授权号 :
CN209689513U
授权日 :
2019-11-26
发明人 :
何刚
申请人 :
北京博岳恒科技发展有限公司
申请人地址 :
北京市通州区宋庄镇前夏村西
代理机构 :
北京东方芊悦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄伟敏
优先权 :
CN201920603948.4
主分类号 :
G01B3/18
IPC分类号 :
G01B3/18  G01B3/22  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/18
千分尺
法律状态
2019-11-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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