一款磁学测试架
授权
摘要
本实用新型公开了一款磁学测试架，包括底板、亥姆霍兹线圈水平旋转机构、传感器纵向移动调节机构、传感器横向移动调节机构、传感器轴向旋转调节机构、传感器水平旋转调节机构、亥姆霍兹线圈，所述底板的底部设有信号线接口，所述底板的顶部设有亥姆霍兹线圈水平旋转机构。该测试架设计多个调节磁阻传感器方向的移动机构和旋转机构，从而灵活调节磁阻传感器方位，降低测试架的操作难度，提高磁场测量精度，保证实验准确性。
基本信息
专利标题 ：
一款磁学测试架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920630822.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-06
授权号 ：
CN210037898U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
梁威卢伟王震
申请人 ：
杭州大华仪器制造有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市富阳区东洲街道工业功能区十一号3号第1、2幢
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920630822.6
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R33/09
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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