磁栅尺设备和位置测量设备

授权

摘要

本公开涉及磁栅尺设备、位置测量设备和位置测量方法。所述磁栅尺设备可包括：栅尺本体，利用铁磁性材料制成，该栅尺本体具有预定编码图案；磁化装置，包括磁体，该磁体形成结构平衡的过渡磁场，所述栅尺本体能够改变所述过渡磁场；磁场检测器，位于所述过渡磁场中，用于检测所述磁化装置在所述栅尺本体作用下形成的磁场。在位置测量设备中，利用磁栅尺设备所检测到的磁场数据，可以进行准确可靠的位置测量。

基本信息

专利标题：

磁栅尺设备和位置测量设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920640035.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-07

授权号：

CN210051288U

授权日：

2020-02-11

发明人：

丁兆洋费利克斯.格里姆

申请人：

丁兆洋;费利克斯.格里姆

申请人地址：

江苏省无锡市太湖街道富力十号C区，3-1802

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

张银英

优先权：

CN201920640035.X

主分类号：

G01B7/00

IPC分类号：

G01B7/00