基于方形微通道切片器件的双能物质识别成像系统
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及成像系统领域,特别涉及一种基于方形微通道切片器件的双能物质识别成像系统,平板探测器位于栈堆后侧,平板探测器和计算机处理系统连接;栈堆包括多片方形微通道切片,单片方形微通道切片由多根方形玻璃单管组成,通道单元为正方形;栈堆的主体侧面为二次曲线构造,多片叠加实现对X射线传输方向的调控以及对X射线能量的选择;栈堆的盒底部内有传送带,传送带由计算机处理系统控制。本实用新型栈堆作为能量选择波导,在低能探测周期移动至透射成像光路中,在高能探测周期移出光路,设备更加便携;能量选择器件栈堆的移动,使得X光管能够以恒定功率运行,不需周期性调整输出功率,设备的检测速率和寿命得到提升。

基本信息
专利标题 :
基于方形微通道切片器件的双能物质识别成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920641473.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-07
授权号 :
CN209784228U
授权日 :
2019-12-13
发明人 :
潘凯张爽向祝君孟昭莹朵竹喧王浩然
申请人 :
北京师范大学;北京市辐射中心
申请人地址 :
北京市海淀区新街口外大街19号
代理机构 :
成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹少华
优先权 :
CN201920641473.8
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-04-16 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20190507
授权公告日 : 20191213
终止日期 : 20200507
2019-12-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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