一种行扫式探测器自动化测试装置
授权
摘要

本实用新型涉及传感技术领域,公开了一种行扫式探测器自动化测试装置,包括框架、探测器本体和显示装置;框架的内底部上表面中间位置固定设置有电源,电源的上方固定安装有第一支撑板,第一支撑板上呈矩形排布安装有若干组插座,第一支撑板的上方固定安装有第二支撑板,第二支撑板上对应插座的上方放置有若干组探测器本体,探测器本体的底端通过探针插入到插座上,探测器本体的上方设置有单片机,单片机的上下两侧设置有若干组接线头,探测器本体的上侧通过导线电性连接到下侧的接线头上,单片机的上方通过框架固定安装有显示装置,显示装置包括电子显示屏和电子表。本实用新型的优点是:测试速度快,精度高,适用于批量测试。

基本信息
专利标题 :
一种行扫式探测器自动化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920698551.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-16
授权号 :
CN210198562U
授权日 :
2020-03-27
发明人 :
周东平
申请人 :
合肥厚朴传感科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园D8楼宇2050号
代理机构 :
北京艾皮专利代理有限公司
代理人 :
丁艳侠
优先权 :
CN201920698551.8
主分类号 :
G01J1/16
IPC分类号 :
G01J1/16  G01J1/04  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/10
采用与基准光或基准电参数相比较的方法
G01J1/16
采用电辐射检测器
法律状态
2020-03-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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