一种高精度非接触式多点测厚仪
授权
摘要
本实用新型提供了一种高精度非接触式多点测厚仪，该装置由光轴、立式直线光轴支架、支架、底座、直线滑轨一、直线滑轨二、滑块组一、滑块组二、激光位移传感器组一、激光位移传感器组二、连接结构组一、连接结构组二、传感器保护装置、数据采集与处理装置，电子显示屏组成。使用者可以将该装置用于轧钢方面的板带测厚，该装置的激光位移传感器组可以在水平和竖直上的移动，实现了不同点的测厚，该装置还实现多点同时测厚，提高了精度。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度非接触式多点测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920704623.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-17
授权号 ：
CN210426442U
授权日 ：
2020-04-28
发明人 ：
王东城张琳卢子艺赵润远张林马锦涛
申请人 ：
燕山大学
申请人地址 ：
河北省秦皇岛市海港区河北大街438号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920704623.5
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-04-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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