本实用新型公开了一种薄膜用高精度测厚仪，包括底座，底座上设置有电动缸，在电动缸的执行轴末端连接有支杆，支杆的底端转动设置有一水平支板，电动缸驱动支板上下直线位移，支板的底端设置有处理器，处理器的底端设置有光源探头，以光源探头所在的竖直轴线为中心线在底座上由近及远依次对称设置有张力测试器和夹具，在对称的张力测试器的底部还设置有支撑板，支撑板上设置有与光源探头对应设置的接收探头，在支撑板的底部设置有升降装置，升降装置驱动支撑板上下移动进而带动张力测试器上下直线位移，在夹具之间设置有薄膜；通过模拟对生产中薄膜的张力来测定薄膜的厚度，进而减少生产线投入使用时的多次测试造成的材料浪费。