一种光学薄膜测厚仪

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种光学薄膜测厚仪，属于薄膜测厚仪的技术领域，包括底座，所述底座的上侧设置有工作台，所述底座的下侧设置有两组校准螺栓，所述校准螺栓贯穿所述底座与所述工作台活动连接，所述底座的左侧开设有滑轨，从而使工作台在一个水平高度，当需要测量的物体厚薄不一致时，可以移动移动轮，使移动轮前后移动，带动光学探头前后移动，可以观察被测量物体不同的厚薄度；当需要调节光学探头的高度时，旋转齿轮，齿轮会转动时，会带动偏移板上下移动，从而带动光学探头上下移动，从而可以调节光学探头的高度。

基本信息

专利标题：

一种光学薄膜测厚仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020252153.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-03-04

授权号：

CN211373516U

授权日：

2020-08-28

发明人：

兰慧琴雷芳芳曾思通

申请人：

福建船政交通职业学院

申请人地址：

福建省福州市仓山区首山路112号

代理机构：

福州旭辰知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

程春宝

优先权：

CN202020252153.6

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06