一种光学薄膜测厚仪

授权

摘要

本实用新型公开了一种光学薄膜测厚仪，包括测厚仪本体，所述测厚仪本体上设置有减震支撑机构，所述测厚仪本体上设置有防尘机构，通过测厚仪本体、减震支撑机构和防尘机构构成本实用新型的主体结构，其中测厚仪本体为光学精密仪器，减震支撑机构第一支撑弹簧、第二支撑弹簧和支撑座在套座内滑动可以调节并吸收外界振动，减少外界振动对测厚仪本体的破坏，防尘机构可左右滑动，方便使用测厚仪本体并对其进行防尘处理，其中防尘挡板、防尘侧板、防尘上板和活动防尘板共同组成防尘组件，并通过门母扣与门子扣扣合，门栓进行固定，将测厚仪本体上部元件完全包裹，减少灰尘沉积在测厚仪本体上，保证测量的精准性。

基本信息

专利标题：

一种光学薄膜测厚仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921704449.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-12

授权号：

CN211317217U

授权日：

2020-08-21

发明人：

吴昊张文斌江洁郭德伟王鸿钧

申请人：

红河学院

申请人地址：

云南省红河哈尼族彝族自治州蒙自市东郊红河学院

代理机构：

北京棘龙知识产权代理有限公司

代理人：

戴丽伟

优先权：

CN201921704449.0

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06