激光测厚仪

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摘要

本实用新型涉及一种激光测厚仪，属于一种测厚装置，包括有支撑底板，支撑底板上设有用于穿行极片的穿带组件以及可循环行走于穿带组件的C型架，C型架的开口处设有用于检测的上激光传感器和下激光传感器，C型架的下端滑动连接有滑轨装置，极片在持续穿行于穿带组件的同时，C型架在极片的上方和下方持续的循环行走，形成波浪状的厚度检测曲线，大大提高了其检测精度和检测效率，另外，通过加宽C型架后端的宽度尺寸，使C型架的重量向远离开口的一端集中，提高了C型架的稳定性，提高了上激光传感器和下激光传感器的稳定性，进一步提高了该激光测厚仪的测量精度。

基本信息

专利标题：

激光测厚仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921720371.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-15

授权号：

CN210375012U

授权日：

2020-04-21

发明人：

周志辉周云苏江伟

申请人：

凯多智能科技（上海）有限公司

申请人地址：

上海市奉贤区环城北路539号3号楼

代理机构：

上海领洋专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

罗晓鹏

优先权：

CN201921720371.1

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06