一种相对激光测厚仪
授权
摘要

本实用新型涉及一种相对激光测厚仪,包括工作台,工作台具有用于放置测量件的测量件放置区域,测量件放置区域设有缺口;相对激光测厚仪还包括两个白光共焦位移传感器,每个白光共焦位移传感器包括一个激光测头,分别属于两个白光共焦位移传感器的两个激光测头相对且分别垂直设置在缺口的两侧。本实用新型对零件的测厚不基于工作台面,工作台面不平整或者零件表面的翘曲不影响测量结果。本实用新型能够极大地提高厚度的测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种相对激光测厚仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921340340.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-16
授权号 :
CN210513028U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
王和云
申请人 :
宾努克斯科技(佛山)有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市顺德区容桂街道办事处容里社区居民委员会昌宝西路33号天富来国际工业城三期11座501之二
代理机构 :
中山市铭洋专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
邹建平
优先权 :
CN201921340340.3
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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