一种薄膜测厚仪
授权
摘要
本实用新型涉及薄膜测厚的技术领域，一种薄膜测厚仪，包括底板，底板上固定连接有立柱，立柱上套设有套环，套环上固定有支撑横梁，支撑横梁远离套环的一端竖直穿设有测量杆，测量杆底端固定连接有检测头，立柱上设置有驱动套环在立柱上滑动的驱动组件；驱动组件包括摇杆、转轴、两块枢接板、限位块和横板，横板一端固定连接在套环上，横板上限位槽，限位块卡嵌在限位槽内，两块枢接板平行设置，且均固定在立柱顶端，转轴转动安装在枢接板上，摇杆一端与转轴固定连接且位于两块枢接板之间，另一端与所述限位块铰接，转轴上设置有驱动转轴转动的动力组件。本实用新型通过驱动组件和动力组件能对薄膜进行自动测厚，且测量精准。
基本信息
专利标题 ：
一种薄膜测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920548143.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-19
授权号 ：
CN209745258U
授权日 ：
2019-12-06
发明人 ：
黄新禄杨火清魏宇航
申请人 ：
武汉友发包装科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东西湖区新沟镇街办事处纺新街41号（14）
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920548143.4
主分类号 ：
G01B21/08
IPC分类号 ：
G01B21/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2019-12-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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