涂层测厚仪
授权
摘要
本实用新型提供涂层测厚仪，属于测量仪器技术领域，以解决现有的测厚仪为整体结构，测厚传感器可能出现划痕磕碰等，导致测厚传感器的精度下降，影响测试数据；测厚仪测试后没有任何痕迹，增加了操作人员的工作量的问题。包括测厚仪体底部开槽内卡扣连接有一组环形的连接衬套；所述连接衬套底部滑动连接有一组环形的防护胶圈；所述连接衬套顶部滑动连接有一组标记滑块；所述标记滑块后部铰链连接有一组笔架。通过在测厚仪外侧设置连接衬套，减少测厚传感器损伤的概率，提高了测厚仪的使用寿命；在笔架内放置记号笔对测试点进行标记，降低了操作人员的操作复杂度。
基本信息
专利标题 ：
涂层测厚仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022291568.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-14
授权号 ：
CN213455410U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
孙华强
申请人 ：
广东华彩粉末科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市大朗镇富民工业园佛新区5-6号
代理机构 ：
北京君泊知识产权代理有限公司
代理人 ：
王程远
优先权 ：
CN202022291568.7
主分类号 ：
G01B21/08
IPC分类号 ：
G01B21/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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