涂层测厚仪测头
授权
摘要
本实用新型提出一种涂层测厚仪测头，涉及厚度测量仪器领域，该涂层测厚仪测头包括：测头本体，呈筒状且具有沿其轴向开设的第一安装腔，第一安装腔的一端具有开口，在开口处安装有用于测量涂层厚度的测量组件；手柄，呈筒状并固接在测头本体的外侧壁上，手柄内开设有第二安装腔，第二安装腔内设置有电路板，电路板通过电线与测量组件电连接。本实用新型提出的涂层测厚仪测头具有小巧的外形以满足小直径内孔壁及窄槽壁的涂层厚度测量。
基本信息
专利标题 ：
涂层测厚仪测头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020198868.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-24
授权号 ：
CN211477062U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
张磊
申请人 ：
北京时代之峰科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区尚东数字谷8号院37号楼5层
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
姜璐璐
优先权 ：
CN202020198868.8
主分类号 ：
G01B21/08
IPC分类号 ：
G01B21/08 G01B7/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/08
用于计量厚度
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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