一种基于微镊的粘附力测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及新材料研发领域，一种基于微镊的粘附力测试装置，包括基座、位移台I、力学测量单元、激光位移计、悬臂、相机架、照相机、位移台II、衬底、颗粒样品、微镊、致动器、位移台III、支架、光学显微镜、计算机和电缆，采用基于微机电系统驱动的微镊与原子力显微镜的悬臂相结合的方法来测量单个微颗粒的粘附力，通过微镊夹紧微粒，并监控微粒与悬臂的相互位置关系，来测量单个微颗粒的粘附力，相比于胶体探针原子力显微镜技术能节省测量时间，且无需环氧树脂来固定待测微粒，测量准确度高，实验步骤简单，所需的测量时间较短，测量准确度高。
基本信息
专利标题 ：
一种基于微镊的粘附力测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920704808.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-11
授权号 ：
CN210198919U
授权日 ：
2020-03-27
发明人 ：
张向平范晓雯方晓华
申请人 ：
金华职业技术学院
申请人地址 ：
浙江省金华市婺城区婺州街1188号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920704808.6
主分类号 ：
G01N15/10
IPC分类号 ：
G01N15/10 G01N19/04 G01Q60/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
法律状态
2020-03-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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