一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置
授权
摘要
本实用新型实施例提供了一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；所述基座用于摆放轴向二极管；所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。
基本信息
专利标题 ：
一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920721208.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-20
授权号 ：
CN210923883U
授权日 ：
2020-07-03
发明人 ：
邵麟许瓅顾琪乐程强马超
申请人 ：
上海精密计量测试研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区元江路3888号
代理机构 ：
上海航天局专利中心
代理人 ：
余岢
优先权 ：
CN201920721208.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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