一种光耦隔离输入电压欠压检测电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种光耦隔离输入电压欠压检测电路，包括电阻R4、电阻R5、电压检测芯片X1和光耦U1，其特征在于，所述电阻R4的一端连接电阻R1和电压输入端POWER，电阻R4的另一端连接电阻R5、电容C1、二极管D1和电压检测芯片X1的脚1，电压检测芯片X1的脚3连接电容C2、二极管D2的阴极、电阻R1的另一端、电阻R2的另一端和光耦U1的脚1，本实用新型光耦隔离输入电压欠压检测电路采用电阻分压的方式，通过高集成电压检测芯片和光电耦合器进行隔离采样，当检测的电压超过设定值时，光电耦合器将信号反馈到后级电压检测端口。和现有技术相比，高集成电压检测芯片具有较高精度，较好的温度稳定性，输出为门电路。
基本信息
专利标题 ：
一种光耦隔离输入电压欠压检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920724147.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-20
授权号 ：
CN209992566U
授权日 ：
2020-01-24
发明人 ：
史文科
申请人 ：
登钛电子技术（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920724147.3
主分类号 ：
G01R19/165
IPC分类号 ：
G01R19/165
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/165
指示电流或电压高于或低于预定值，或者是处于预定的数值范围之内或之外
法律状态
2020-01-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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