基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器，该探测器包括探测粒子所产生的光子的双闪探测器，用于将所述双闪探测器探测到的光子进行反射的反射碗(1)，用于接收所述反射碗反射的光子并将光信号转换成电荷信号的硅光电倍增器，以及用于对所述硅光电倍增器形成的电荷信号进行活度测量的信号处理电路。本实用新型提供的探测器利用硅光电倍增器实现光信号与电荷信号之间的转换硅光电倍增器电压低、体积小、可阵列使用，解决了探测面的位置响应差的问题。
基本信息
专利标题 ：
基于MPPC阵列的α、β和γ表面污染仪探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920745114.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-23
授权号 ：
CN210294539U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
张志勇刘思平李晨
申请人 ：
上海仁机仪器仪表有限公司
申请人地址 ：
上海市崇明区横沙乡富民支路58号A1-204室（上海横泰经济开发区）
代理机构 ：
上海领洋专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗晓鹏
优先权 ：
CN201920745114.7
主分类号 ：
G01T1/167
IPC分类号 ：
G01T1/167 G01T1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量，例如，污染的测量
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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