一种基于SiPM的表面污染探测器
授权
摘要
本申请提供了一种基于SiPM的表面污染探测器，属于核辐射探测技术，其包括探测器本体、闪烁体、多个SiPM探头以及信号处理模块。探测器本体内部形成多个腔室，腔室的一端贯通探测器本体的顶端并形成进口，腔室的另一端贯通探测器本体的底端并形成出口。闪烁体设于探测器本体的顶部，并封堵进口。每个出口设置有至少一个SiPM探头，SiPM探头用于将α、β射线激发闪烁体产生的并经过腔室的光信号转变成电信号。信号处理模块用于将电信号转变成数字信号。这种探测器利用小型独立腔室与SiPM探头的组合，有效地降低了光信号在腔室中的损耗，有效地提高了探测效率。由于SiPM探头分散分布，提高了探测器表面不同位置上探测效率的均匀性。
基本信息
专利标题 ：
一种基于SiPM的表面污染探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922193810.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-09
授权号 ：
CN210923983U
授权日 ：
2020-07-03
发明人 ：
卢亚鑫沈杨董翀
申请人 ：
北京中科核安科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区高里掌路1号院15号楼2层2单元201
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李梦宁
优先权 ：
CN201922193810.4
主分类号 ：
G01V5/00
IPC分类号 ：
G01V5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V5/00
应用核辐射进行勘探或探测，例如，利用天然的或诱导的放射性
法律状态
2020-07-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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