金属探测仪
授权
摘要
一种金属探测仪，通过外环探测头组件底部设置可伸缩的内圆探测头组件，从而适应于不同的使用环境，在狭窄或者狭长的区域可使用伸出的内圆探测头组件，在宽阔的区域则可使用组合在一起的探测头部件，适应于各种使用条件和环境。
基本信息
专利标题 ：
金属探测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920746200.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-23
授权号 ：
CN210038185U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
王岳庆夏宇王昌友王洁莹
申请人 ：
舟山市越洋食品有限公司
申请人地址 ：
浙江省舟山市定海区盐仓街道越洋路1号
代理机构 ：
舟山固浚专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
江亮
优先权 ：
CN201920746200.X
主分类号 ：
G01V3/02
IPC分类号 ：
G01V3/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/02
利用电流的传输进行操作的
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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