探测仪
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摘要
本实用新型公开一种探测仪，包括：支架；针孔准直器，设于支架上；放射源，设于所述针孔准直器的焦点部上，放射源用于自焦点部连续发射光子对，光子对包括探测光子和位置分辨光子，探测光子和位置分辨光子的发射方向相反，探测光子发射至待探测物体上发生散射生成散射光子；位置灵敏探测器，设于针孔准直器大端的端面上，用于探测预设能量的所述位置分辨光子并生成位置信号；散射探测器，设于所述支架上，用于探测预设能量范围内的所述散射光子，其中，所述散射探测器的探头轴线与所述针孔准直器的轴线之间的夹角为钝角。该探测器提高了所探测散射光子事件的数量和能量，使得能量分辨率、信噪比和总探测效率均得到大大提高。
基本信息
专利标题 ：
探测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020232730.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-28
授权号 ：
CN212341056U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
曹文田
申请人 ：
北京格物时代科技发展有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区黄村镇兴华大街（二段）13号院4号楼5层511室
代理机构 ：
北京工信联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
白晓晰
优先权 ：
CN202020232730.5
主分类号 ：
G01N23/20066
IPC分类号 ：
G01N23/20066 G01T1/29
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20066
通过测量伽马射线的非弹性散射，如康普顿效应
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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