一种拼接式测试针夹
授权
摘要
一种拼接式测试针夹,应用于PCB基板测试领域,包含:连接测试设备和被测PCB基板的测试探针座(1)和探针(2)、上部组块(3)和下部组块(4)、上部组块定位拼接孔(5)和下部组块定位拼接孔(6)、上部组块定位拼接销(7)和下部组块定位拼接销(8)、同心轴(9)和弹簧(10),上部组块(3)和下部组块(4)的组合体,构成一个基本结构单元。借助上部组块和下部组块的定位拼接孔和定位拼接销,多个基本结构单元可以快速、稳固地拼接起来。免除手工使用螺丝刀进行螺钉式PCB接线端子压线作业的一种拼接式测试针夹,实现被测PCB基板与测试设备之间的高效率、高可靠性、降低劳动强度的连接作业。
基本信息
专利标题 :
一种拼接式测试针夹
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920748700.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-23
授权号 :
CN210222076U
授权日 :
2020-03-31
发明人 :
张广礼韩圣哲李琳马金波李建伟杨旭尚宏芳
申请人 :
大连新明华电子科技有限公司
申请人地址 :
辽宁省大连市大连开发区辽河东路106号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920748700.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-03-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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