双视角射线检测设备
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摘要

本实用新型涉及双视角射线检测设备。双视角射线检测设备包括用于发射出射线面的射线源、具有双准直器缝的双视角准直器和安装架,安装架包括竖探测器臂立柱、射线源侧支撑、主梁,主梁下方设有横探测器臂,竖探测器臂立柱上设有两个竖探测器臂,探测面中心与射线源的发射点的连线垂直于探测面,且相邻探测面上相互靠近且垂直于所在探测器臂延伸方向延伸的两个边与射线源的发射点处于同一平面上,横探测器臂上的多个探测器由横探测器臂靠近射线源的一端至远离射线源的一端由密变疏,竖探测器臂上多个探测器由竖探测器臂靠近射线源的一端至远离射线源的一端由密变疏。本实用新型的双视角射线检测设备的探测器数量较少,降低射线检测设备的成本。

基本信息
专利标题 :
双视角射线检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920758319.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-24
授权号 :
CN209961708U
授权日 :
2020-01-17
发明人 :
毛宗钦王满仓张祖涛王新奎
申请人 :
许昌瑞示电子科技有限公司
申请人地址 :
河南省许昌市中原电气谷核心区周寨路与尚集街交汇区
代理机构 :
郑州睿信知识产权代理有限公司
代理人 :
李天龙
优先权 :
CN201920758319.9
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-01-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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