一种晶体基座检查工装
授权
摘要
本实用新型公开一种晶体基座检查工装，包括吸取件，其包括第一面、与第一面相背的第二面、设置于第一面的与晶体基座放置用模具相适配的定位凹腔、设置于定位凹腔底面与晶体基座放置用模具的用于置放晶体基座的凹槽相对应位置的容纳凹腔、设置于容纳凹腔的底面并贯穿容纳凹腔的底面和第二面的第一透光孔；机座，其包括第三面、容纳空间及位于第三面的与容纳空间连通的开口；光源，其设置于容纳空间内；至少定位凹腔的底面具有磁性；检查时，第二面朝向第三面将吸取件置放于开口内。它能快速地进行晶体基座的密封性检查。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体基座检查工装
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920798438.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-30
授权号 ：
CN210293587U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
葛良清
申请人 ：
四川索斯特电子有限公司
申请人地址 ：
四川省泸州市泸县工业园区
代理机构 ：
成都百川兴盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
王云春
优先权 ：
CN201920798438.7
主分类号 ：
G01M3/38
IPC分类号 ：
G01M3/38
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/36
••通过检测被测结构部件的尺寸变化
G01M3/38
应用光照
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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