一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统

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摘要

本实用新型涉及样品光学检测领域，具体地说是一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统，其中白光光源、金刚石对顶砧、物镜、分束片和透射荧光反射镜依次呈一线排列，显微成像时，可移动反射镜移动至分束片和透射荧光反射镜之间，白光光源发出的白光依次经过金刚石对顶砧、物镜和分束片后，经可移动反射镜反射射入显微成像系统中，测量时，可移动反射镜移出，脉冲激光光源发出的激光光束射入分束片中，且反射光部分经物镜会聚于金刚石对顶砧，样品辐射的荧光经物镜后射入分束片中，且透射荧光部分经透射荧光反射镜反射后经聚焦镜射入光谱仪中。本实用新型在测量前利用显微成像实现选区对焦，并可实现对高压模块全谱段时间分辨荧光的测量。

基本信息

专利标题：

一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920799179.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-30

授权号：

CN209992396U

授权日：

2020-01-24

发明人：

隋来志袁开军吴国荣张雨桐牛光明

申请人：

中国科学院大连化学物理研究所

申请人地址：

辽宁省大连市沙河口区中山路457-41号

代理机构：

沈阳科苑专利商标代理有限公司

代理人：

汪海

优先权：

CN201920799179.X

主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N21/64