本实用新型公开了芯片外罩自动上料测量机，包括上料测量机主体，所述上料测量机主体的上端外表面设置有便捷测量机构、进料斗与外罩壳，所述便捷测量机构位于进料斗的一侧，所述外罩壳位于进料斗的另一侧。本实用新型所述的芯片外罩自动上料测量机，设有便捷测量机构、卷绕收纳机构与便捷出料机构，能够便于人们对芯片外罩的质量与大小进行测量，测量起来较为方便，有利于人们使用，并能对上料测量机上过长部分的导线进行收纳，防止长期暴露在外受到损坏，有利于人们使用，还可以根据加工设备料口的位置对出料的高度进行调节，可以使出料变得更加顺畅，有利于人们使用，带来更好的使用前景。