测量机构及自动测量上料装置
授权
摘要
本实用新型提供一种测量机构及自动测量上料装置，包括驱动组件、支撑组件、第一测量部件和第二测量部件，第一测量部件固定在支撑组件的底部，第二测量部件设置在驱动组件的下端，驱动组件用于驱动第二测量部件靠近或远离第一测量部件，驱动组件和支撑组件固定连接，驱动组件上还设有位移传感器，用于测量驱动组件的驱动位移；驱动组件在驱动第二测量部件靠近或远离第一测量部件的同时，通过设于驱动组件上的移传感器测量驱动组件的驱动位移，以对加工材料的厚度进行测量，从而提高了测量的精准度。
基本信息
专利标题 ：
测量机构及自动测量上料装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921397457.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-26
授权号 ：
CN210802354U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
李锦坪王观东罗贵长赵剑陈根余陈焱高云峰
申请人 ：
大族激光科技产业集团股份有限公司;大族激光智能装备集团有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区深南大道9988号
代理机构 ：
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄章辉
优先权 ：
CN201921397457.5
主分类号 ：
G01B7/06
IPC分类号 ：
G01B7/06 B65G47/91
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B7/06
用于计量厚度
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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