一种晶振频率测量系统
授权
摘要
本实用新型提供了晶振频率测量领域的一种晶振频率测量系统，包括一晶振电路、一探头以及一频率计；所述探头的一端与晶振电路连接，另一端与所述频率计连接；所述频率计与晶振电路连接；所述探头包括一电容组C3X以及一等效电阻R3；所述电容组C3X与等效电阻R3并联；所述等效电阻R3的一端与晶振电路连接，另一端与所述频率计连接。本实用新型的优点在于：减少了寄生电容对晶振频率测量所产生的影响，进而提高了晶振频率的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
一种晶振频率测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920832994.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-04
授权号 ：
CN210742385U
授权日 ：
2020-06-12
发明人 ：
荆亮郑维宏
申请人 ：
福建星网视易信息系统有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市仓山区建新镇金山大道618号桔园洲工业园19号楼一、二层
代理机构 ：
福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋连梅
优先权 ：
CN201920832994.1
主分类号 ：
G01R23/02
IPC分类号 ：
G01R23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/02
频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置
法律状态
2020-06-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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