用于测量内孔圆柱度的装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种用于测量内孔圆柱度的装置，利用本实用新型的一种用于测量内孔圆柱度的装置对被测工件的被测内孔进行检测时，通过第一检测杆、第二检测杆和第三检测杆在不同测量截面检测得出测量值并计算出被测内孔在测量截面上的圆度误差，并根据每个测量截面处第一检测杆、第二检测杆、第三检测杆以及倾角传感器的测量值计算得出被测内孔中心线的直线度误差，根据所得出的各测量截面上的圆度误差及被测内孔中心线的直线度误差就能够计算得出被测内孔的圆柱度误差。由此可见，本实用新型的一种用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法能够方便地对工件的内孔参数进行检测。
基本信息
专利标题 ：
用于测量内孔圆柱度的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920849753.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-06
授权号 ：
CN209961177U
授权日 ：
2020-01-17
发明人 ：
钟亦林蔡潇雨魏佳斯李源
申请人 ：
上海市计量测试技术研究院
申请人地址 ：
上海市静安区长乐路1226号
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩双宏
优先权 ：
CN201920849753.8
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-05-18 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20190606
授权公告日 : 20200117
终止日期 : 20200606
申请日 : 20190606
授权公告日 : 20200117
终止日期 : 20200606
2020-01-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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