一种用于硅微粉加工用检测磁性杂质含量的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于硅微粉加工用检测磁性杂质含量的装置，包括底壳，所述底壳的顶部固定连接有顶壳，所述顶壳的顶部卡接有顶盖，所述底壳的正面开设有出料口，所述顶壳的左侧固定连接有机座，所述机座的顶部固定安装有电机，所述底壳的内壁上卡接有入料漏斗，所述顶壳的右侧内壁上铰接有数量为两个的盖门。该用于硅微粉加工用检测磁性杂质含量的装置，通过设置将硅微粉导入检测箱的内部并开启电机使入检测箱转动，然后启动充电磁铁板使其带有磁性，检测箱在转动的同时会将磁性杂质吸附，而硅微粉则不会吸附，从而有效的解决了硅微粉生产时其内部包含有磁性杂质，不经过处理的话会使得硅微粉质量较差的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种用于硅微粉加工用检测磁性杂质含量的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920869456.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-11
授权号 ：
CN210166514U
授权日 ：
2020-03-20
发明人 ：
刘国生
申请人 ：
连云港永科硅微粉有限公司
申请人地址 ：
江苏省连云港市东海县平明镇工业集中区
代理机构 ：
连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
杜丽丽
优先权 ：
CN201920869456.X
主分类号 ：
G01V3/00
IPC分类号 ：
G01V3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
法律状态
2020-03-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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