一种EKT双面AOI检测设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种EKT双面AOI检测设备，包括上照相机光源模块和下照相机光源模块，所述上照相机光源模块安装在第一支撑架上，所述下照相机光源模块安装在第二支撑架上；所述第一支撑架包括X轴和第一Y轴和第二Y轴，所述第一Y轴和所述第二Y轴对称且间隔设置，所述X轴横跨所述第一Y轴和所述第二Y轴，且通过第一滑块分别与所述第一Y轴和所述第二Y轴相接；两个照相机光源模块上下交错分布，光源频闪，可避免同时移动拍照时，彼此光线的干扰，且双面检测，提高了效率，且控制了成本。此外，两个照相机光源模块在各自的X轴、Y轴上移动拍照，互补干扰，可以实现独立控制。
基本信息
专利标题 ：
一种EKT双面AOI检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920903447.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-17
授权号 ：
CN210604344U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
黄坤范剑
申请人 ：
深圳易科讯科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道南浦路25号3层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920903447.8
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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