用于放射性污染材料活度连续甄别的探测器组件
授权
摘要

本申请公开了用于放射性污染材料活度连续甄别的探测器组件,涉及辐射检测领域。探测器组件设置在第一传送装置和第二传送装置处,第一传送装置上方布置有入口料斗。所述探测器组件包括第一至第三探测器。第一探测器及第二探测器对应布置在入口料斗的两侧。第一探测器用于测量位于入口料斗上游的放射性活度。第二探测器用于测量待分拣材料的放射性活度及测量所有放射性总计数率。第三探测器布置在所述第二传送装置局部区域的上方,用于测量待分拣材料的放射性活度。本申请的利用第一及第二探测器实现快速测量,利用第三探测器选择感兴趣区,实现特定放射性核素的识别与分析并可有效降低探测下限,提高效率,从而实现高效、连续、可靠地甄别。

基本信息
专利标题 :
用于放射性污染材料活度连续甄别的探测器组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920908409.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-17
授权号 :
CN210604996U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
何铮陈钢朱双华张永旺
申请人 :
博思英诺科技(北京)有限公司
申请人地址 :
北京市朝阳区胜古中路2号院5号楼1105/1106室
代理机构 :
北京万思博知识产权代理有限公司
代理人 :
姜楠楠
优先权 :
CN201920908409.1
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167  B07C5/34  B07C5/02  B07C5/36  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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