一种用于表面污染仪α和β射线的甄别电路
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于表面污染仪α和β射线的甄别电路。包括放大整形电路、稳压电路、幅度比较电路和宽度比较电路;放大整形电路包括运算放大器和探测器,运算放大器的输入端连接探测器;稳压电路包括稳压源,稳压源输入端连接有电源;幅度比较电路包括比较器1,比较器1的第一正向输入端口和第二正向输入端口连接稳压电路的输出端,比较器1的第一反向输入端口和第二反向输入端口连接运算放大器的输出端;宽度比较电路包括比较器2,比较器2的第一正向输入端口连接稳压电路的输出端,比较器2的第一反向输入端口连接在放大整形电路的输出端。本实用新型的目的在于提供一种用于区分α和β射线的甄别电路,进而提供表面污染仪的测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种用于表面污染仪α和β射线的甄别电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920903625.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-17
授权号 :
CN210639284U
授权日 :
2020-05-29
发明人 :
占星
申请人 :
苏州中民辐安仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城经济开发区观塘路1号西交大漕湖科技园C座910室
代理机构 :
苏州六一专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
梁美珠
优先权 :
CN201920903625.7
主分类号 :
G01T1/169
IPC分类号 :
G01T1/169  G01T1/17  G01T7/00  G01V5/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/169
污染的表面面积的探查和定位
法律状态
2020-05-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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