表面污染测量仪
授权
摘要

本申请涉及一种表面污染测量仪,包括辐射探测器、固定件及数据采集系统;辐射探测器的个数为多个,多个辐射探测器在同一平面内设置,一同组成探测器组;固定件整体固定探测器组;每个辐射探测器均与数据采集系统通信连接;数据采集系统适用于整合处理每个辐射探测器的数据,定位辐射源的位置。将多个辐射探测器通过固定件牢固的置于同一平面内,进行模块式整合,拼接成探测器组,增加该设备的探测面积,更利于扩展。每个辐射探测器通过数据线将数据独立传输给数据采集系统,数据采集系统结合各个探测器给出灵敏面积内辐射水平及其分布,便于本领域测试人员快速地得出辐射源所处的位置及辐射大致强度。

基本信息
专利标题 :
表面污染测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021688188.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-13
授权号 :
CN212483884U
授权日 :
2021-02-05
发明人 :
郑永男张小彬
申请人 :
北京海阳博创科技股份有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区双园路9号2号楼5层508-511室
代理机构 :
北京市鼎立东审知识产权代理有限公司
代理人 :
陈佳妹
优先权 :
CN202021688188.0
主分类号 :
G01T1/208
IPC分类号 :
G01T1/208  G01T1/202  G01V5/00  G01S5/16  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
G01T1/208
专用于闪烁探测器的电路,例如,用于光电倍增管部件
法律状态
2021-02-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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