一种表面污染测量仪
授权
摘要

本实用新型涉及核物质检测技术领域,目的是提供一种表面污染测量仪,本实用新型包括有测量本体和握把,所述测量本体上包括有探测罩和外壳,所述外壳的底部设置有探测罩,所述所述握把与所述外壳滑动连接,所述握把的一端设置有防滑纹,所述握把的另一端设置有隔离框,所述隔离框靠近防滑纹的一端设置有开口,所述隔离框与所述探测罩位于同一水平面上,所述测量本体还包括有传感器、微处理器、定时模块、报警模块和电源模块,所述微处理器分别与所述传感器、所述定时模块、所述报警模块和电源模块连接。

基本信息
专利标题 :
一种表面污染测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021905933.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-03
授权号 :
CN213482462U
授权日 :
2021-06-18
发明人 :
韩涛
申请人 :
绵阳市恒通机电设备有限公司
申请人地址 :
四川省绵阳市绵山路64号(科学城五区花园三楼303室)
代理机构 :
成都时誉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
田高洁
优先权 :
CN202021905933.2
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167  G01T7/00  G01T7/12  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2021-06-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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