表面粗糙度测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种表面粗糙度测量仪，其中，来自一个位移探测器(32)-(为用电检测测量臂(5)的一个旋转位移)的一个模拟给出信号被转换为数字信号，然后计算这一输出信号，以便测量一个待测工件(18)的表面粗糙度，这个表面粗糙度测量仪借助设置装置(42)设定取样数N，即2n等分待测长度，该测量仪还包括一个定时电路(40)用作取样控制，使每次取样时控制模/数转换器39。
基本信息
专利标题 ：
表面粗糙度测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85105285A
申请号 ：
CN85105285.1
公开（公告）日 ：
1987-01-07
申请日 ：
1985-07-10
授权号 ：
CN1005790B
授权日 ：
1989-11-15
发明人 ：
水野哲
申请人 ：
株式会社三丰制作所
申请人地址 ：
日本东京都港区芝五丁目33番7号
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN85105285.1
主分类号 ：
G01B7/34
IPC分类号 ：
G01B7/34
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/315
••用于检测轮子的准直
G01B7/34
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2000-09-06 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-08-01 ：
授权
1989-11-15 ：
审定
1987-01-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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